样品制备设备设备说明
01
离子减薄仪
离子减薄用于 TEM 样品的制备，适用于多种材料，对样品导电性没有要求。其基本原理是利用离子束轰击样品，使之穿孔，从而制得中间薄、周围厚的 TEM 样品。
- TEM 制样
- 离子束
- 无导电要求
10项设备项目官网当前可查看的仪器能力2类能力分组按样品制备与电镜检测归类3条核心流程覆盖制样、TEM 与 SEM 能力路径
Equipment directory
找到方法背后的设备能力
按照制样流程与检测用途，查看当前公开的仪器设备能力。
样品制备设备Preparation to imaging
从样品状态，到可解释的图像。
- 01明确观察目标
确认目标区域、观察尺度与材料状态。
- 02匹配制样方式
选择减薄、抛光或导电镀膜方式。
- 03选择成像设备
根据问题匹配 TEM 或 SEM 能力。
Choose with context
先明确问题，再选择设备。
提供材料体系、样品状态和目标尺度，由技术工程师协助匹配制样与设备路径。