中材新材料研究院-透射电镜TEM测试-扫描电镜SEM测试-离子束FIB加工-TEM制样检测-FIB制样检测-SEM制样检测-Sinoma Institute of Materials Research (SIMR)

TEM明场像

TEM暗场像

选区电子衍射

高分辨像

HAADF像

能谱点测

能谱线测

能谱面扫

SEM背散射像

SEM二次电子像
粉末/生物样品制备

块体样品平面制样

块体样品截面制样

FIB制样

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2021-08-04 39 《Transmission Electron Microscopy 》顶级教材.zip

83 18.77 MB

2021-08-04 38 《Transmission Electron Microscopy 》顶级教材.zip

70 11.34 MB

2021-08-04 37 Transmission_Electron_Microscopy.zip

64 38.19 MB

2021-08-04 36 The_Transmission_Electron_Microscope.zip

64 69.43 MB

2021-08-04 35 Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Methodology.zip

67 11.24 MB

2021-08-04 34 Transmission_Electron_Microscopy_Physics of Image Formation.zip

68 9.13 MB

2021-08-04 33 Theoreticla aspects of Scanning Transmission Electron Microscopy.zip

79 7.73 MB

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公司动态

关于我们

　　专业人做专业事。各行业的大趋势都是向精细化、专业化方向发展。只有精细分工和高度专业化，才能产生一流的产品和服务。
　　中国的材料工艺研发和材料科学研究正处于蓬勃发展的高速增长期，数量和质量都在迅速增长。在材料研发和研究领域，微观结构和微观效应成为日益关注的重点，合理准确地进行表征成为社会难题。
　　而今，中材新材料研究院应运而生——专业从事材料微观检测与分析，具有专业透射电子显微检测与分析水平。中材工程师从事TEM检测与分析工作十年以上，累计操作TEM设备超过8000小时，拍摄TEM图片15万张以上，经验丰富而专业。

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