中材新材料研究院-透射电镜TEM测试-扫描电镜SEM测试-离子束FIB加工-TEM制样检测-FIB制样检测-SEM制样检测-Sinoma Institute of Materials Research (SIMR)

TEM明场像

TEM暗场像

选区电子衍射

高分辨像

HAADF像

能谱点测

能谱线测

能谱面扫

SEM背散射像

SEM二次电子像
粉末/生物样品制备

块体样品平面制样

块体样品截面制样

FIB制样

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2021-04-14 2021年中材新材料研究院(生物-高分子方向)委托协议书.docx

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2021-04-14 2021年中材新材料研究院(材料方向)委托协议书.docx

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2020-06-19 《电子显微镜图像分析原理与应用》（黄孝瑛）.pdf

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2020-06-19 《电子显微分析实用方法》（吴杏芳柳得橹）.pdf

975 10.43 MB

2020-06-19 《电子晶体学与图像处理》（李方华）.pdf

1429 44.71 MB

2020-03-31 4《电子显微学》（英文版）.pdf

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2020-03-31 11《电子显微镜中的电子能量损失学》.pdf

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关于我们

　　专业人做专业事。各行业的大趋势都是向精细化、专业化方向发展。只有精细分工和高度专业化，才能产生一流的产品和服务。
　　中国的材料工艺研发和材料科学研究正处于蓬勃发展的高速增长期，数量和质量都在迅速增长。在材料研发和研究领域，微观结构和微观效应成为日益关注的重点，合理准确地进行表征成为社会难题。
　　而今，中材新材料研究院应运而生——专业从事材料微观检测与分析，具有专业透射电子显微检测与分析水平。中材工程师从事TEM检测与分析工作十年以上，累计操作TEM设备超过8000小时，拍摄TEM图片15万张以上，经验丰富而专业。

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