透射电子显微镜(TEM)的应用

TEM在材料科学研究领域有着广泛的用途,研究人员可以利用吸收衬度像,对样品进行一般的形貌观察,而对于确定材料的物相、晶系等,则可以利用电子衍射等衍射技术对样品进行物相分析;由于TEM的高分辨率,因而可以利用高分辨电子显微术直接“观察”到晶体中原子或原子团在特定方向上的投影,以确定晶体结构,还可以观察晶体中存在的结构缺陷,确定缺陷种类、估算缺陷的密度等。由于TEM所附加的电子能量损失谱仪或能量色散x射线谱仪,使得研究人员可以对样品的微区化学成分进行分析。在纳米材料研究中,TEM常用于观察纳米粒子的形貌、分散情况及测量评估纳米粒子的粒径。随着现在计算机科学的迅速发展,对于TEM的获得的图像结果却仍然使用大量人力进行分析,那么将TEM图像与图像处理技术相结合,实现对图像的自动识别,可以帮助那些利用TEM研究材料的工作人员提高工作效率,对于各领域材料的研究分析都有着非常重要的作用,更是一种必要趋势。