形貌观察是透射测试中最基本的测试项目，且一般使用明场像进行形貌观察。

如前所述，明场像中晶粒的衬度与晶粒取向有关，而一般情况下相邻晶粒之间的晶体取向是不同的，因此不同的晶粒有不同的衬度，我们在明场像中能够得以区别不同的晶粒，从而可以进行晶粒尺寸统计。

当晶体中存在畸变时，晶内某些区域的晶体学取向会发生微小的变化，从而在明场像中产生衬度上的差别。因此利用明场像可以观察点缺陷、线缺陷（位错）、面缺陷（孪晶、层错）等。

基体和第二相的衍射条件一般也是不同的，因此稍有经验的研究人员，都可以在明场像中观察第二相的分布和第二相的尺寸。

如果样品是纯非晶态，则不存在衍射衬度或取向衬度，只有质厚衬度。