中材新材料研究院(广州)有限公司
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TEM检测方案
INDUSTRY SOLUTIONS
形貌观察是透射测试中最基本的测试项目,且一般使用明场像进行形貌观察。
如前所述,明场像中晶粒的衬度与晶粒取向有关,而一般情况下相邻晶粒之间的晶体取向是不同的,因此不同的晶粒有不同的衬度,我们在明场像中能够得以区别不同的晶粒,从而可以进行晶粒尺寸统计。
当晶体中存在畸变时,晶内某些区域的晶体学取向会发生微小的变化,从而在明场像中产生衬度上的差别。因此利用明场像可以观察点缺陷、线缺陷(位错)、面缺陷(孪晶、层错)等。
基体和第二相的衍射条件一般也是不同的,因此稍有经验的研究人员,都可以在明场像中观察第二相的分布和第二相的尺寸。
如果样品是纯非晶态,则不存在衍射衬度或取向衬度,只有质厚衬度。