中材新材料研究院(广州)有限公司
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利用FIB技术制作透射样品
根据需求可以在指定的特定位置精确取样,制备可供TEM观察的薄区,
对于粉末一般采用碳膜滴样的方式制样。
对于粉末样,粒径较小的粉末就一般使用碳膜铜网、钼网或者微栅滴样,来进行TEM制样。