中材新材料研究院(广州)有限公司
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可以通过SEM简单了解样品晶粒的取向。
通过特定的方式,可以使一些样品上不同取向的晶粒以不同的衬度体现,从而可以简单大概的了解一下样品内晶粒的取向。
高低倍的SEM形貌
可以提供高低倍的SEM形貌图,根据需求使用二次电子或背散射电子成像