Home
TEM detection
物相分析
能谱分析
形貌分析
晶体缺陷及其他分析
其他(实验方案设计)
All testing items
微观结构测试
材料成分测试
失效分析
切片分析
力学性能分析
材料测试方案
生物材料测试方案
金属材料测试方案
无机非金属材料测试方案
高分子材料测试方案
二维材料测试方案
仪器设备
About Us
公司介绍
公司文化
发展历程
荣誉资质
公正性声明
News
行业动态
公司动态
技术动态
Data Analysis
资料下载
应用案例
必备干活
数据下载
联系我们
地图
数据分析
Order Test
联系Tel
133 1884 2335
微信二维码
仪器设备
离子减薄仪
电解双喷减薄仪
聚焦离子束设备(FIB)
透射电子显微镜Talos F200X
球差电镜spectra 300
钨灯丝扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜
超高分辨电镜FEl-Verios5UC
金相研磨抛光机
离子抛光仪
喷金仪/喷碳仪
离子减薄仪
离子减薄用于TEM样品的制备,适用于多种材料,对样品导电性没有要求。它的基本原理是利用离子束轰击样品,使之穿孔,从而制得中间薄、周围厚的TEM样品。
phone
133 1884 2335 (袁工)
133 1884 2335 (唐工)
weChat
Return to the top